技術(shù)編號(hào)：6089863
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種集成電路的測(cè)試儀器和測(cè)試探頭，其基本工作原理是利用充分顯示數(shù)字集成電路的邏輯狀態(tài)圖來觀察了解其真值表，從而判斷該集成電路的功能是否正常。一個(gè)數(shù)字集成電路的全部邏輯狀態(tài)圖的集合就是它的真值表，通過數(shù)字集成電路的邏輯狀態(tài)圖，來判斷該電路功能是否正常是一種形象、直觀、簡(jiǎn)單，可靠的方法，它是以被測(cè)板上每個(gè)數(shù)字集成電路(IC)為對(duì)象的故障診斷法。這種診斷法與以被測(cè)系統(tǒng)或被測(cè)板為對(duì)象的診斷法相比具有很多優(yōu)點(diǎn)。后者常常需要有完好的系統(tǒng)或印制板做對(duì)比測(cè)量...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。