技術(shù)編號(hào)：6102919
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及測(cè)試，尤其涉及多個(gè)測(cè)試流的校準(zhǔn)信息的匯編。背景技術(shù) 在制造和/或銷售電氣設(shè)備(包括諸如電路板、集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)這樣的系統(tǒng)或組件)之前，通常測(cè)試設(shè)備以確定它是否是按所設(shè)計(jì)的方式構(gòu)建或工作的。通常，此測(cè)試是由自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE，也稱為“測(cè)試儀”)來執(zhí)行的。要使ATE的結(jié)果有意義，ATE需要被校準(zhǔn)。即必須量化在不同條件和測(cè)試設(shè)置下的測(cè)試期間ATE可能引入的固有系統(tǒng)誤差。量化ATE的固有系統(tǒng)誤差的數(shù)據(jù)常被稱為“校準(zhǔn)數(shù)據(jù)”，并且可以包括一個(gè)或...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。