技術(shù)編號：6105596
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及對諸如半導(dǎo)體存儲器之類的半導(dǎo)體器件進(jìn)行各種操作測試的半導(dǎo)體測試儀的一種程序執(zhí)行系統(tǒng)。按慣例，大家都知道對各種半導(dǎo)體器件進(jìn)行預(yù)定操作測試的半導(dǎo)體測試儀。舉例說，象DUT(受測 器件)的這類半導(dǎo)體器件包括半導(dǎo)體存儲器、邏輯IC(集成電路)、線性IC等，各半導(dǎo)體器和適當(dāng)?shù)陌雽?dǎo)體測試儀測試。這些各式各樣的半導(dǎo)體測試儀是為執(zhí)行用戶編程的預(yù)定器件測試程序進(jìn)行預(yù)定的功能測試、直流測試(直流參數(shù)測試)等而設(shè)計的。器件測試程序大致由三部分組成測試控制語句，數(shù)據(jù)處...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。