技術(shù)編號：6110830
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及自動測試裝置的校準(zhǔn)，更具體地說，涉及自動測試裝置的校準(zhǔn)因子的遞增產(chǎn)生。背景技術(shù) 在制造和/或銷售電子設(shè)備(包括諸如電路板、集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)之類的系統(tǒng)或組件)之前，通常會對設(shè)備進行測試，以判斷該設(shè)備是否按設(shè)計那樣被建造或工作。通常，這種測試由自動測試裝置(ATE，也被稱為“測試器”)來執(zhí)行。為了使ATE的結(jié)果有意義，ATE需要被校準(zhǔn)。就是說，必須量化在不同條件和測試設(shè)置下的測試期間，ATE可能引起的固有系統(tǒng)誤差。用于量化ATE固有系統(tǒng)誤...
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