技術編號：6121820
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明一般地涉及一種具有多個用于測試多個器件的測試點的自 動測試設備(ATE)，更具體地說，本發(fā)明涉及在測試多個器件的過程 中ATE使用的測試點得知對象(site-aware object)。背景技術ATE指通常由計算機驅動的自動化方式的測試器件，例如，半導 體、電子電路以及印刷電路板組件。ATE測試的器件，例如半導體器 件，被稱為被測器件(DUT)。當今的ATE支持多點測試。支持多點測試的ATE包括多個測試 槽，或"測試點"。將要測試的器件插入每個測試點...
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