技術(shù)編號：6122353
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種裝置，其用于對位于產(chǎn)品區(qū)例如容器或管中的待分析材料進 行電磁波譜或光學(xué)分析，特別是用于對粉末、塊狀材料、顆粒等進行光度分析、 分光光度分析或圖像分析，該裝置具有設(shè)置在外殼中的測量探頭，該測量探頭 具有至少一個輻射或光測量元件、設(shè)置在外殼壁內(nèi)并且位于光路中的測量窗口、 以及至少一個用于進行分析的檢測元件，該測量探頭以這樣一種方式形成并且 沿軸向可移動地被引導(dǎo)，即，使得該測量窗口所在的至少部分外殼通過開口進 入包含待分析材料的產(chǎn)品區(qū)，以便進行分析...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。