技術(shù)編號(hào):6129134
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種對(duì)光學(xué)薄膜元件參數(shù)的測(cè)量方法,特別是光學(xué)薄膜吸收損耗的測(cè)量方法。背景技術(shù) 吸收損耗是衡量光學(xué)薄膜性能的重要指標(biāo)之一,尤其是在高功率激光應(yīng)用中,吸收損耗不僅引起光學(xué)薄膜元件的熱畸變,使激光束的光束質(zhì)量降低,還會(huì)降低薄膜抗激光損傷的能力,限制激光器和激光系統(tǒng)中所能輸出和傳輸?shù)淖罡吖β省M瑫r(shí)薄膜吸收損耗的準(zhǔn)確測(cè)量對(duì)于優(yōu)化膜層設(shè)計(jì)和鍍膜工藝以提高薄膜元件的性能也十分重要。因此,必須發(fā)展能準(zhǔn)確測(cè)量光學(xué)薄膜吸收損耗的高靈敏測(cè)試技術(shù)手段。傳統(tǒng)的分光光度法、...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。