技術(shù)編號：6131729
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明總的涉及用于測試印刷電路板的設(shè)備，特別涉及用于檢測印刷電路板上的制作缺陷的設(shè)備。授與Cilingiroglu的美國專利US-5,124,660公開了一種制作缺陷分析儀，在該分析儀中，形狀通常為平板的金屬電極置在印刷電路板上的元件的上面。該電極由產(chǎn)生電場的振蕩器驅(qū)動，在測試中電場耦合到元件的引線結(jié)構(gòu)上。這種類型的耦合稱為“電容耦合”。測試探頭連接到印刷電路板上，以測量電容性地耦合到電路板的信號。為了確定在試驗(yàn)中的元件的特定引線是否正確地連接到印刷電路板...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。