技術(shù)編號：6134070
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及集成電路(IC)的測試方法和裝置，特別是涉及這樣的IC測試方法和裝置，即加載臂工作段中的輸送裝置僅運送待測試器件(以下稱為未測試器件)，和在卸載臂工作段中的輸送裝置僅運送已測試器件。下面，參照附圖說明圖1和圖2說明現(xiàn)有技術(shù)的實例。圖1和圖2是原理圖，用于解釋未測試器件19被從加載臂工作段ST1經(jīng)加載緩沖工作段ST4、接觸臂工作段ST3和卸載緩沖工作段ST5帶到卸載臂工作段ST2所經(jīng)過的路徑。圖1是平面圖，圖2是側(cè)視圖。在圖1和圖2中，把未測試器件...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。