技術(shù)編號:6134131
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種施加電壓測定電流的裝置,能夠用于例如測試半導(dǎo)體集成電路元件(以下稱為IC)各端子的直流特性是否處于規(guī)定條件范圍內(nèi)。背景技術(shù) IC的測試中有功能測試和直流測試。所謂功能測試,是指判斷被測試IC是否按照預(yù)定功能來操作的測試。而所謂直流測試,是指判斷被測試IC的例如輸入端子的漏電流是否低于規(guī)定值、或者輸出端子的輸出電流是否高于預(yù)定電流值的測試。本發(fā)明涉及用于直流測試的施加電壓測定電流的裝置的改進(jìn),特別提供一種結(jié)構(gòu),能夠不使用高精度的電阻器,即可以很...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲(chǔ)備,不適合論文引用。