技術(shù)編號：6142855
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及檢測存在于液晶玻璃基板等檢查對象物的表面上的缺陷的。本申請根據(jù)2007年1月16日在日本申請的日本特愿2007-6766號主張優(yōu)先權(quán)，并將其內(nèi)容引用于本申請。背景技術(shù)以往，公知有用照相機拍攝液晶玻璃基板等檢査對象物，使用圖像處理來檢查檢查對象物上是否有缺陷的缺陷檢測裝置(缺陷檢査裝置)。例如在專利文獻1中公開了以下內(nèi)容為了更詳細(xì)地檢測缺陷，根據(jù)拍攝檢査對象物而得到的圖像數(shù)據(jù)檢測檢查對象物上的明暗缺陷，并且通過對圖像數(shù)據(jù)進行微分處理來檢測檢查對象物...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。