技術(shù)編號：6165037
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種用于測試基于電路的系統(tǒng)中的多個核心的測試調(diào)度的方法、裝置和系統(tǒng)的代表性實施例。測試數(shù)據(jù)被編碼以導(dǎo)出需要少量核心輸入信道的壓縮測試模式。每個壓縮測試模式的核心輸入/輸出信道要求信息被相應(yīng)地確定。壓縮模式被分組成測試模式類別。在測試模式類別的形成之后，對電路輸入和輸出信道以及測試應(yīng)用時隙進(jìn)行分配，可包括將互補(bǔ)的測試模式類別合并成可與特定的測試訪問機(jī)制一起工作的簇。該測試訪問機(jī)制可獨(dú)立于測試數(shù)據(jù)而被設(shè)計。專利說明具有與模式無關(guān)的測試訪問機(jī)制的測試...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。