技術(shù)編號：6171702
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明公開了一種ATE測試通道設(shè)計方法，該方法在ATE測試頭內(nèi)，在常規(guī)測試通道基礎(chǔ)上，對應(yīng)于每條測試通道分別增加一個獨立開關(guān)；在ATE負載板上，增加一個以上能與測量儀器探頭掛接的采樣端子；所述獨立開關(guān)的一端通過信號線與對應(yīng)的測試通道連接，另一端通過信號線與采樣端子連接。本發(fā)明設(shè)計的ATE測試通道，利用開關(guān)的開/閉實現(xiàn)待測通道的選擇，使測量儀器探頭能與負載板固定物理連接，從而大大提高了外接測量儀器與測試通道建立連接、進行測量的效率，降低了工程調(diào)試難度，并確保...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。