技術(shù)編號(hào)：6171799
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，先獲取火星表面線陣相機(jī)拍攝位置、姿態(tài)相關(guān)參數(shù)，構(gòu)建嚴(yán)格幾何模型；計(jì)算像點(diǎn)坐標(biāo)在原始影像上的核線，獲取核線上一系列的離散點(diǎn)；設(shè)定平均高程面作為投影面，將線陣立體影像進(jìn)行微分糾正獲取水平影像；將原始影像核線上的離散點(diǎn)轉(zhuǎn)換至水平影像上，計(jì)算核線在水平影像上的幾何關(guān)系并確定核線方向；在水平影像上沿核線方向進(jìn)行核線重采樣，獲取近似核線影像；本發(fā)明是利用嚴(yán)密幾何模型結(jié)合投影軌跡法核線幾何分析與微分糾正生成水平影像的線陣影像核線重采樣方法，在微分糾正生成水平...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。