技術(shù)編號(hào):6175630
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種,利用光學(xué)設(shè)計(jì)軟件仿真出旋轉(zhuǎn)軸對(duì)稱光學(xué)非球面相對(duì)于最接近球面的波像差,使用數(shù)字波面干涉儀利用球面鏡頭直接測(cè)量出旋轉(zhuǎn)軸對(duì)稱光學(xué)非球面相對(duì)于鏡頭參考面的波像差,經(jīng)過(guò)一些數(shù)學(xué)運(yùn)算,將兩者像素一一對(duì)應(yīng),然后做差法運(yùn)算,即可得到非球面實(shí)際面形與理論面形的殘差分布,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)旋轉(zhuǎn)軸對(duì)稱光學(xué)非球面的實(shí)時(shí)檢測(cè)。本發(fā)明具有快速、準(zhǔn)確、檢測(cè)范圍廣等優(yōu)點(diǎn),具有廣闊的市場(chǎng)前景。本檢測(cè)方法可以檢測(cè)非球面的最大非球面度和非球面度梯度取決于數(shù)字波面干涉儀內(nèi)CCD的分辨率。專利說(shuō)明[...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。