技術編號：6182110
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明公開了一種,目的是解決現(xiàn)有方法檢測鍵合絲觸碰短路可能發(fā)生漏檢的問題。技術方案是配置被測集成電路芯片的所有輸出引腳為高阻態(tài)；將被測集成電路芯片的所有引腳施加N+1種電壓中的一種；將被測集成電路芯片置于振動環(huán)境中振動并對被測集成電路芯片供電；實時監(jiān)控流過每一種電壓的電流，若發(fā)現(xiàn)電流脈沖則捕獲和記錄電流脈沖，并通過檢查N+1種電壓中任意兩種電壓是否同時出現(xiàn)運動方向相反的電流脈沖以判斷鍵合絲觸碰短路現(xiàn)象是否發(fā)生。本發(fā)明能夠檢測出振動環(huán)境下集成電路芯片內鍵合絲...
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該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。