技術(shù)編號：6214285
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明描述了一種通過分析利用兩個不同的梯度調(diào)制方案獲得的回波衰減曲線來量化材料中的微觀擴散各向異性和/或平均擴散率的方法，其中，一個梯度調(diào)制方案基于各向同性擴散加權(quán)，而另一個梯度調(diào)制方案基于非各向同性擴散加權(quán)，并且其中，所述方法包括通過比較兩個獲得的回波衰減曲線的信號衰落進行分析。專利說明用于量化微觀擴散各向異性的分析 [0001] 本發(fā)明涉及一種用于通過磁共振成像或核磁共振光譜來量化材料中的微觀擴散 各向異性的方法。 背景技術(shù) [0002] 使...
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