技術(shù)編號(hào)：6214392
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于檢查被檢查對(duì)象(2)的表面(3)的方法和裝置，其中，通過至少一個(gè)照射單元(8)照射所述表面(3)，并且通過至少一個(gè)面型圖像傳感器(6)記錄所述表面(3)，其中，記錄的圖像被進(jìn)給至圖像分析裝置(11)，所述圖像分析裝置(11)被設(shè)計(jì)為在檢測(cè)處理中檢測(cè)作為缺陷區(qū)的表面異常，并且可選地在分割工藝中相對(duì)于彼此或者相對(duì)于圖像背景定界所述缺陷區(qū)，以在區(qū)域分析處理中組合關(guān)聯(lián)的缺陷區(qū)，和/或在特征提取中從缺陷面或者缺陷區(qū)域?qū)С鎏匦匀毕?，其中，將所述面型圖...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。