技術(shù)編號：6216418
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于晶體管熱阻測試的溫控試驗(yàn)系統(tǒng)，其具有施力單元，包括驅(qū)動(dòng)裝置和施壓裝置，驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)施壓裝置向被測器件施加測試所需的壓力；恒溫平臺，用于承載被測器件，并保持被測器件處于測試所需的溫度條件；測試單元，設(shè)置在恒溫平臺中，用于將被測器件的管腳與測試分析裝置相連接，從而對被測器件進(jìn)行電性能測試；傳感器單元，用于探測被測器件的測試溫度和測試壓力；信息采集與處理單元，用于采集所述傳感器的數(shù)據(jù)并進(jìn)行處理和顯示。該系統(tǒng)能滿足宇航型號用功率器件熱阻測試工程化...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。