技術編號：6226087
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及金屬材料X-射線相分析方法，包括以下步驟分別對試樣和相同成分標樣進行衍射強度的旋轉測量、對無織構標樣進行衍射強度的旋轉或非旋轉測量，得到Ii(hkl)值、Ij(hkl)值和Ir(hkl)值；對衍射強度進行織構修正，分別計算出試樣、相同成分標樣的{hkl}軸密度Pi(hkl)、Pj(hkl)，進一步分別計算出試樣、相同成分標樣的經(jīng)過織構修正的{hkl}晶粒的衍射強度Ii(hkl)(c)、Ij(hkl)(c)；將Ii(hkl)(c)、Ij(hkl)(...
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