技術(shù)編號(hào)：6226778
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光學(xué)材料測(cè)量，具體為一種。本發(fā)明測(cè)量裝置包括一低相干度光源、Michelson干涉系統(tǒng),二維樣品臺(tái)，容積可調(diào)樣品池、聚焦透鏡、耦合光纖、光譜儀和計(jì)算機(jī)；測(cè)量時(shí),先將樣品池容積(面積和厚度)調(diào)至適當(dāng),測(cè)量參考臂和樣品臂的干涉光譜,得出空樣品池的厚度；然后再將微量待測(cè)液體滴入樣品池隙口,并使光束垂直入射樣品池表面,測(cè)量干涉光譜,并得到對(duì)光譜進(jìn)行Fourier變換，可得到待測(cè)量液體樣品的群折射率。本發(fā)明測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，測(cè)量方法操作簡(jiǎn)便，測(cè)量精度高。專...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。