技術(shù)編號：6227350
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。，涉及超精密測量領(lǐng)域。它為了解決現(xiàn)有測定磁致伸縮系數(shù)的方法測量精度低的問題。本發(fā)明的調(diào)整架用于固定待測鐵磁體，二號平面反射鏡用于固定在待測鐵磁體的一個端面，薄玻璃板與二號平面反射鏡平行設(shè)置；線性調(diào)頻激光器發(fā)出的激光入射至薄玻璃板的表面，經(jīng)所述薄玻璃板透射后的激光入射至二號平面反射鏡，經(jīng)所述薄玻璃板反射后的激光通過會聚透鏡聚焦到光電探測器的光敏面上。本發(fā)明將待測鐵磁體長度變化量調(diào)制在中頻外差信號的頻率差中，通過測量該頻率差即可同時得到多個待測鐵磁體長度變化量...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。