技術(shù)編號(hào)：6227733
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提出了低損耗材料介電特性的一種高精度寬帶測(cè)試方法，適用于一分體式圓柱諧振腔，該分體式圓柱諧振腔的兩個(gè)法蘭盤構(gòu)成徑向波導(dǎo)，將被測(cè)材料夾在兩個(gè)半腔體之間進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試模式為TE011、TE111、TE211、TE311、TE411、TE511、TE611、TE711、TE811、TE911；利用測(cè)試模式諧振頻率與介電常數(shù)的約束關(guān)系，基于遞推方法實(shí)現(xiàn)各個(gè)測(cè)試模式的識(shí)別，并計(jì)算出各測(cè)試模式諧振頻率處被測(cè)材料的介電常數(shù)。同時(shí)，利用各測(cè)試模式的品質(zhì)因數(shù)與材料損耗...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。