技術(shù)編號(hào)：6229358
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，具體涉及非晶硅薄膜的低頻電流噪聲測(cè)試技術(shù)，該測(cè)試技術(shù)使用的測(cè)試系統(tǒng)包括偏置電路、電磁屏蔽裝置、噪聲放大系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集與處理系統(tǒng)。首先通過偏置電路激發(fā)出非晶硅薄膜的低頻電流噪聲，再通過低噪聲電流放大器將樣品低頻噪聲放大，繼而通過數(shù)據(jù)采集卡采集放大后的噪聲信號(hào)并計(jì)算出相應(yīng)的電流噪聲信號(hào)功率譜密度，最后利用電腦分析和處理數(shù)據(jù)，得出非晶硅薄膜低頻噪聲的功率譜密度曲線。本發(fā)明可實(shí)現(xiàn)非晶硅薄膜低頻噪聲的可重復(fù)精確測(cè)試，方便快捷。專利說明[0001]本發(fā)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。