技術(shù)編號：6243821
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種天線近場測量快速計(jì)算遠(yuǎn)區(qū)場特性方法。本方法首先對平面近場掃描得到的兩個切向場分量進(jìn)行二維快速傅里葉逆變換，得到相應(yīng)的波譜分量，避免二重積分求解大量的時間開銷。已知波譜分量的K域離散采樣值，采用二維樣條插值方法近似計(jì)算其余各個目標(biāo)方向上波譜未知量，計(jì)算精度取決于傅里葉變換點(diǎn)數(shù)。最后利用仿真得到的開口波導(dǎo)場分布，進(jìn)行探頭補(bǔ)償，快速修正波譜，用駐相法直接計(jì)算天線遠(yuǎn)區(qū)場特性。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于天線近場測量快速計(jì)算技術(shù)，主要是針對...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。