技術(shù)編號：6244257
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，其包括如下步驟步驟1、根據(jù)顆粒狀材料的面徑比，求得顆粒狀材料的軸向退磁因子ST和徑向退磁因子SL；步驟2、根據(jù)顆粒狀材料的軸向退磁因子ST和徑向退磁因子SL，求得軸向混合因子和徑向混合因子；步驟3、根據(jù)測試出的顆粒狀材料隨機(jī)分布于基體材料內(nèi)形成的復(fù)合材料的等效電磁參數(shù)，進(jìn)而應(yīng)用數(shù)值方法提取出顆粒狀材料的本征電磁參數(shù)。本發(fā)明的有益效果是精度高、適用范圍廣且考慮分布效應(yīng)。專利說明 [0001] 本發(fā)明屬于電磁參數(shù)測量領(lǐng)域，具體涉及一種用于顆...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。