技術(shù)編號：6250174
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種，其特征在于，包括步驟1，將編碼光柵投射到待測物體表面；步驟2，從兩個不同角度分別獲取待測物體表面的圖像；步驟3，根據(jù)光柵相移法和極線約束，對兩張圖像進(jìn)行處理從而得到點(diǎn)云數(shù)據(jù)；步驟4，根據(jù)點(diǎn)云數(shù)據(jù)重構(gòu)待測物體的三維形狀。本發(fā)明的方法對相對平滑的物體進(jìn)行不接觸，可以主動式、實(shí)時、低成本、精確地進(jìn)行三維物體的測量與重建。專利說明 [0001]本發(fā)明涉及三維測量領(lǐng)域，特別是涉及一種。 背景技術(shù) [0002]三維物體的重建工作越來越多地出現(xiàn)...
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