技術(shù)編號：6251226
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了。使用本發(fā)明能夠?qū)上嗔黧w回路在超過工質(zhì)冷凝溫度環(huán)境下的失效狀態(tài)進行測試，并分析凍結(jié)對兩相流體回路傳熱性能的影響。本發(fā)明首先設(shè)計了一套試驗裝置，通過控制模擬熱源和散熱板的溫度控制兩相流體回路的工作溫度，設(shè)計試驗方法，對兩相流體回路凍結(jié)失效性能進行測試。其中，溫度傳感器的布置有利于觀察兩相流體回路中氨工質(zhì)的狀態(tài)，查看兩相流體回路中的各部件是否滿足溫度要求，同時還可以查看兩相流體回路是否達(dá)到平衡。專利說明 [0001]本發(fā)明涉及航天器熱控制，...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。