技術編號:6252113
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。一種,首先計算原光譜和樣本成分含量的PLS回歸系數(shù)計算原光譜和隨機重排后樣本成分含量的PLS回歸系數(shù)計算每個變量的統(tǒng)計量 s 值;重復 K 次隨機檢驗,每個變量計算 K 個 s 值的平均值,所有的變量按平均值的降序排序;通過按排序順序逐個選擇變量來建立一系列模型;對任一模型,計算其校正集的均方根誤差值;計算每個模型的均方根誤差值和最小的均方根誤差值的比值,將第一個該比值超過0.95的模型作為最終的預測模型。該選擇方法同時考慮變量的絕對回歸系數(shù)值和統(tǒng)計量,來...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。