技術(shù)編號：6334492
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及電子技術(shù)，具體說就是一種基于EDA技術(shù)的電子系統(tǒng)多目標(biāo)可靠性容 差設(shè)計方法。背景技術(shù)隨著現(xiàn)代科技工業(yè)的迅速發(fā)展，對系統(tǒng)進行可靠性設(shè)計已成為產(chǎn)品質(zhì)量設(shè)計中不 可缺少的一部分，而在產(chǎn)品的三次設(shè)計(系統(tǒng)設(shè)計、參數(shù)設(shè)計和容差設(shè)計)過程中，容差設(shè) 計又是進一步提高產(chǎn)品質(zhì)量，降低其對設(shè)計參數(shù)和噪聲偏差敏感性的重要方法。電子系統(tǒng) 元器件的參數(shù)值在實際工作中會受到各種因素的影響而發(fā)生波動，主要包含以下幾種情 況(1)由于制造工藝的原因，使組成系統(tǒng)的元器件參數(shù)通常...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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