技術(shù)編號：6398304
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及設(shè)計和測試集成電路器件，更具體地說，涉及確定電壓超調(diào)狀況對此類集成電路器件內(nèi)的電介質(zhì)的影響的方法和系統(tǒng)。背景技術(shù)眾所周知，微電子電路/產(chǎn)品的最大工作電壓與微電子電路中所用的介電絕緣體材料的失效或擊穿緊密相關(guān)。最大電壓傳統(tǒng)上可根據(jù)介電失效模型進(jìn)行估計，其中假設(shè)這些工作電壓在一個周期內(nèi)保持恒定。換言之，就電壓超調(diào)而言，通常忽略任何電壓波形的時間相關(guān)性。目前，沒有一種簡單、直接的方法可從數(shù)量上估計任何波形的電壓超調(diào)/欠調(diào)對介電失效可靠性的影響。發(fā)明內(nèi)容...
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