技術編號：6541227
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明實施例提供一種FPGA外掛存儲器校驗方法及裝置，該方法包括FPGA獲取寫入所述FPGA的外掛存儲器的第一數(shù)據(jù)和所述第一數(shù)據(jù)對應的第一地址；根據(jù)所述第一地址獲取與所述第一數(shù)據(jù)的位數(shù)相同的第一待校驗地址；將所述第一數(shù)據(jù)和所述第一待校驗地址進行異或，獲取第一異或結果；將所述第一異或結果與初始校驗值進行異或，獲取第一校驗值。本發(fā)明實施例中，第一數(shù)據(jù)和第一待校驗地址進行異或，并將異或結果與初始校驗值進行異或，來獲取校驗值，實現(xiàn)了對FPGA外掛存儲器寫入的地址和...
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