技術(shù)編號：6561271
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種對多個(gè)FLASH進(jìn)行測試的方法，尤其涉及一種實(shí)現(xiàn) S0C芯片中多任務(wù)多FLASH同時(shí)測試的方法。背景技術(shù)隨著硅片上的芯片數(shù)量越來越多，芯片的功能也越來越復(fù)雜，因此測 試所需的時(shí)間也越來越長、測試成本也就越來越高，如圖1所示，現(xiàn)有技 術(shù)中，對SOC芯片中FLASH的測試一般都是采用專門的測試儀器直接通過 芯片中的CPU來對各個(gè)FLASH進(jìn)行測試的，這種測試方法只能一個(gè)一個(gè)功 能的進(jìn)行測試，因此測試效率很低。尤其是對FLASH IP進(jìn)行測試時(shí)，由...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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