技術(shù)編號(hào)：6565283
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及儀器儀表測(cè)試領(lǐng)域，尤其是關(guān)于一種測(cè)試電腦鍵盤的鍵盤測(cè)試儀。背景技術(shù)現(xiàn)有的鍵盤測(cè)試儀是通過(guò)按動(dòng)待測(cè)鍵盤的每個(gè)按鍵來(lái)完成對(duì)鍵盤的測(cè)試，該測(cè)試方法的測(cè)試原理是用待測(cè)鍵盤IC取代已經(jīng)與PC機(jī)連接好的鍵盤的電路板，然后通過(guò)測(cè)試員逐一按動(dòng)該待測(cè)鍵盤IC上的按鍵進(jìn)行鍵盤測(cè)試，PC機(jī)用于顯示鍵盤按鍵的測(cè)試結(jié)果，該種方式的缺點(diǎn)是由于現(xiàn)有的測(cè)試方式是通過(guò)人工手動(dòng)操作完成鍵盤的按鍵測(cè)試，其測(cè)試速度較慢，測(cè)試效率較低。同時(shí)，長(zhǎng)時(shí)間反復(fù)按動(dòng)鍵盤也使得測(cè)試員比較疲勞，容...
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