技術(shù)編號：6697540
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于光學粒子計數(shù)器的領(lǐng)域。本發(fā)明總體涉及用于驗證光學粒子計數(shù)器的 校準狀態(tài)和性能的校準驗證系統(tǒng)(calibration verification system)以及方法。背景技術(shù)大部分微污染(micro-contamination)行業(yè)都依賴于使用光學粒子計數(shù)器，所述 光學粒子計數(shù)器諸如在大量美國專利中所描述的光學粒子計數(shù)器，所述美國專利包括美國 專利 No. 3，851，169,4, 348，111,4, 957，363,5, 085，500,5,...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。