技術(shù)編號(hào)：6741986
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明一般涉及存貯器的功能測(cè)試，尤其涉及在保持高度準(zhǔn)確性的同時(shí)以更高的速度對(duì)以微處理器為基礎(chǔ)的裝置內(nèi)的存貯器進(jìn)行功能性測(cè)試的方法和系統(tǒng)。以微處理器為基礎(chǔ)的裝置或插件板的功能測(cè)試被用來確定影響半導(dǎo)體存貯器和芯片操作的故障或差錯(cuò)的位置。本專業(yè)領(lǐng)域的技術(shù)人員都承認(rèn)，對(duì)于確定可能發(fā)生的所有故障，一次功能測(cè)試要進(jìn)行的存取訪問次數(shù)為2N量級(jí)，其中N是該存貯器中可尋址的單元數(shù)，由于其復(fù)雜性和所需的時(shí)間，因此這種功能測(cè)試是不切實(shí)際的。作為一種實(shí)用的方法，任何可行的測(cè)試程序...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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