技術(shù)編號：6748295
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種檢測用于由磁阻元件從磁存儲介質(zhì)讀出數(shù)據(jù)的磁存儲器的熱不平度的方法及其電路。在磁盤裝置中，磁頭從旋轉(zhuǎn)磁盤讀出數(shù)據(jù)和將數(shù)據(jù)寫到旋轉(zhuǎn)磁盤。該磁盤隨著磁盤的旋轉(zhuǎn)而浮動。為了增加磁盤裝置的存儲密度，磁阻元件被用作磁頭的讀出元件。磁阻元件(MR元件)是一個其阻值對應(yīng)于磁場大小而改變的元件。使磁頭本身浮動在磁盤上方，該磁頭從磁盤讀出數(shù)據(jù)。存儲密度的增加需要減小來自磁盤的磁場泄漏。因此，要求磁頭的浮動量變小，并且該浮動量減少到幾十微米。另一方面，磁盤的表面大...
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