技術(shù)編號(hào)：6754509
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種具有自身ID信息的存儲(chǔ)器件，特別涉及一種包括用于存儲(chǔ)關(guān)于存儲(chǔ)器件的諸如缺陷地址、制造工廠、制造日期、晶片號(hào)碼、晶片上的坐標(biāo)等信息的信息存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)器件。背景技術(shù) 一般來說，如果在封裝過程完成之后在存儲(chǔ)器件中發(fā)現(xiàn)缺陷，則推想與有缺陷的存儲(chǔ)器件同時(shí)制造的其它存儲(chǔ)器件也有同樣的缺陷。因此需要對(duì)該存儲(chǔ)器件進(jìn)行性能測(cè)試。然而，過去并沒有方法來找出有關(guān)于存儲(chǔ)器件的諸如缺陷地址、制造工廠、制造日期、晶片號(hào)碼、晶片上的坐標(biāo)等信息，因此很難從多個(gè)存儲(chǔ)器件中準(zhǔn)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學(xué)習(xí)原理，如您想要源代碼請(qǐng)勿下載。