技術(shù)編號：6759375
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，具體來說，涉及評估由于高溫環(huán)境中的改寫的重復(fù)而造成的從相位變化類型光記錄介質(zhì)再生的再生信號的質(zhì)量的下降的檢查方法。背景技術(shù) 迄今為止，在相位變化類型光記錄介質(zhì)(以下簡稱為“光盤”)中，在透明襯底上形成了由其中由于施加的激光功率的差而導(dǎo)致晶態(tài)和非晶態(tài)之間的相位變化的材料所制成的記錄層。在記錄操作過程中，向記錄層施加激光束以部分地熔化記錄層，并且部分地熔化的記錄層被快速地冷卻和固化，從而在記錄層中形成無定形記錄標(biāo)記。另一方面，在擦除操作過程中，向無...
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