技術(shù)編號：6772839
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。發(fā)明涉及檢測技術(shù)，尤其涉及一種檢錯/糾錯(Error Checking andCorrecting, ECC)校驗?zāi)K的檢測方法及裝置。背景技術(shù)隨著集成電路的飛速發(fā)展，半導(dǎo)體存儲器的集成度越來越高，容量也越來越大。隨之而來的問題是半導(dǎo)體存儲器的可靠性和成品率面臨嚴重的挑戰(zhàn)，比如信噪比隨著集成度的增加而減小，存儲節(jié)點電荷量的降低使得存儲單位更容易受宇宙射線的影響，深亞微米技術(shù)下的工藝偏差和材料缺陷導(dǎo)致存儲器成品率的降低等。在半導(dǎo)體的生產(chǎn)過程中，可能受生產(chǎn)環(huán)境...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學(xué)習(xí)原理，如您想要源代碼請勿下載。