技術(shù)編號：6828258
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于測量半導(dǎo)體發(fā)光二極管芯片和外延片發(fā)光強(qiáng)度的測試裝置。在本實(shí)用新型作出前，還未見有測量發(fā)光二極管芯片和外延片發(fā)光強(qiáng)度的儀器，通常的辦法是在用電流點(diǎn)亮的芯片旁放置一個普通光探測器，測量芯片發(fā)光的光電流，籍以相對比較芯片發(fā)光的亮暗來定光強(qiáng)，由于未曾采用光度探測器直接進(jìn)行光強(qiáng)標(biāo)定，其測試結(jié)果并非被測件的發(fā)光強(qiáng)度。本實(shí)用新型的目的是提供一種結(jié)構(gòu)簡單、使用方便，能直接進(jìn)行光強(qiáng)標(biāo)定的發(fā)光二極管芯片和外延片光強(qiáng)測試儀。本實(shí)用新型的發(fā)光二極管芯片和外延片光強(qiáng)測...
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