技術(shù)編號(hào)：68609
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種顯微監(jiān)控型可選區(qū)原子力顯微成像方法及裝置。背景技術(shù)微納米技術(shù)是國(guó)際上近年來(lái)飛速發(fā)展的高新技術(shù)領(lǐng)域，美、歐、日等發(fā)達(dá)國(guó)家及我國(guó)都將微納米技術(shù)列入二十一世紀(jì)國(guó)家科技發(fā)展戰(zhàn)略中優(yōu)先發(fā)展的前沿技術(shù)領(lǐng)域。以掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)等為代表的掃描探針顯微鏡(SPM)家族，是微納米技術(shù)領(lǐng)域中應(yīng)用十分廣泛的微納米檢測(cè)技術(shù)及儀器，是微納米技術(shù)發(fā)展的重要基礎(chǔ)之一。其中，AFM不受微納米樣品的導(dǎo)電性(導(dǎo)體、半導(dǎo)體與絕緣體)、磁性(磁體與非磁體)及物質(zhì)態(tài)(固態(tài)、膠體與液態(tài))等的限制，因而在微納...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。