技術編號:6936785
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明是有關于一種制作半導體元件的方法,且特別是有關于一種。低介電常數(shù)材料包括像是HSQ(氫化硅倍半氧化物)、FSG(摻氟的氧化硅)以及CORAL(摻碳的氧化硅)的無機材料,以及像是flare(聚芳香烯醚)、SILK(芳香族碳氫化合物)以及二甲苯塑料等有機材料。在一種傳統(tǒng)用來形成鑲嵌開口的工藝是先形成介層洞,如附圖說明圖1所示,此方法會在預先提供的基底100之間的內連線(未顯示)上形成一層蓋氮化物層,之后依序在蓋氮化物層上形成第一低介電常數(shù)介電層104、阻...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。