技術(shù)編號(hào):7171886
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及,特別涉及具有柵絕緣膜等絕緣膜的。背景技術(shù) 近年來,隨著ULSI(Ultra Large Scale Integrated circuit,超特大規(guī)模硅集成電路)電路的高密度化·高集成化,元件的尺寸也日趨微小,要使元件的尺寸更加微小,在縮小元件本身尺寸的同時(shí),元件隔離區(qū)域的微小化也日趨重要。為此提出了種種縮小元件隔離區(qū)域的方法,特別是提出了STI法(ShallowTrench Isolation法,淺槽隔離法)以代替現(xiàn)有的選擇氧化法(LOCOS法...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。