技術(shù)編號(hào)：7210692
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體裝置、特別是裝載用來進(jìn)行半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的試驗(yàn)的測試電路的半導(dǎo)體裝置以及用來裝載該測試電路對(duì)半導(dǎo)體裝置進(jìn)行試驗(yàn)的試驗(yàn)裝置的構(gòu)成。大部分半導(dǎo)體存儲(chǔ)器具有備用的存儲(chǔ)單元，當(dāng)有一部分存儲(chǔ)單元不良時(shí)，可以用備用的存儲(chǔ)單元置換該不良部分，對(duì)不良的芯片進(jìn)行補(bǔ)救。附圖說明圖19是表示設(shè)在這樣的半導(dǎo)體存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)器陣列部8010的冗余電路的構(gòu)成的概略框圖。存儲(chǔ)器陣列部8010中的1個(gè)存儲(chǔ)單元可以利用外部輸入的行地址信號(hào)RA0-13和列地址信號(hào)CA0-8進(jìn)行選擇...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。