技術(shù)編號：7521687
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及包含微型電子計算機(jī)的半導(dǎo)體集成電路，特別是涉及利用微型電子計算機(jī)等的半導(dǎo)體元件中的電涌，檢測晶體管的擊穿的電路及其應(yīng)用。在現(xiàn)有的技術(shù)中，主要采用專用的測量電路或裝置來檢測微型電子計算機(jī)等的半導(dǎo)體集成電路的電涌引起的晶體管的擊穿?？墒牵谠摲椒ㄖ?，微機(jī)工作時由于電涌致使晶體管被擊穿時，無法直接了解該晶體管是否在正常工作，只能利用二次因素，事后檢測微型電子計算機(jī)的工作異常。在此情況下，由于不能直接確定原因，所以有可能造成不能正常工作的大事。附圖說明圖...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。