技術(shù)編號：7523026
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)，特別涉及用于提高逐次逼近寄存器(SAR)ADC精度的校準方法。背景技術(shù)在系統(tǒng)芯片內(nèi)常有各種模擬和數(shù)字電路。信號從數(shù)字域到模擬域轉(zhuǎn)變，或者相反。 模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號用于復雜的數(shù)字處理，例如數(shù)字信號處理器(DSP)。有多種類型的模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)已經(jīng)廣泛用于各種應用當中。閃速式(flash)ADC 在一瞬間比較模擬信號電壓和多個電壓電平，產(chǎn)生一個代表該模擬電壓的多比特數(shù)字值。 逐次逼近ADC使用一系列階段將一個模擬電壓轉(zhuǎn)換...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學習。