技術(shù)編號(hào)：7525230
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。使用校驗(yàn)子分析的故障總線通道檢測(cè)背景技術(shù)本發(fā)明一般地涉及計(jì)算機(jī)存儲(chǔ)器系統(tǒng)，更具體地說，涉及使用校驗(yàn)子分析檢測(cè)故障總線通道?，F(xiàn)代高性能計(jì)算主存儲(chǔ)器系統(tǒng)通常包括一個(gè)或多個(gè)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(DRAM)設(shè)備，這些設(shè)備通過一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器控制元件連接到一個(gè)或多個(gè)處理器。整體計(jì)算機(jī)系統(tǒng)性能受計(jì)算機(jī)結(jié)構(gòu)的每個(gè)關(guān)鍵元素的影響，這些元素包括處理器(多個(gè))、任何存儲(chǔ)器高速緩存(多個(gè))、輸入/輸出(I/o)子系統(tǒng)(多個(gè))的性能/結(jié)構(gòu)、存儲(chǔ)器控制功能(多個(gè))、主存儲(chǔ)器設(shè)備(多個(gè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。