技術(shù)編號(hào):7541762
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種,尤其是在最后幾個(gè)位決定期間中的每一個(gè)位決定期間,利用比較器連續(xù)對(duì)第一電位與取樣及數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換電路上的第二電位進(jìn)行多次比較以得到多個(gè)比較結(jié)果,然后再由連續(xù)逼近式控制電路根據(jù)得到的多個(gè)比較結(jié)果來產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的輸出位。專利說明 [0001] 本發(fā)明涉及一種模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換技術(shù),特別涉及一種連續(xù)逼近式模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器 (SAR ADC)及其方法。 背景技術(shù) [0002] 模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(analog-to-digital converter ;ADC)有多種...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路,無完整電路圖,適合研究學(xué)習(xí)。