技術(shù)編號(hào):7745045
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及通信,特別涉及。 背景技術(shù)如圖1所示的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(Auto Test Equipment, ATE)系統(tǒng)包括自動(dòng)測(cè)試設(shè)備、射頻指標(biāo)測(cè)試儀器及射頻產(chǎn)品如基站(Base Station, BS),其中自動(dòng)測(cè)試設(shè)備通過(guò)第 二控制接口控制基站向射頻指標(biāo)測(cè)試儀器提供測(cè)試參數(shù);并通過(guò)第一控制接口控制射頻指 標(biāo)測(cè)試儀器對(duì)基站的射頻指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試;而基站是通過(guò)射頻信號(hào)(Radio Frequency, RF) 將被測(cè)信號(hào)提供給射頻標(biāo)識(shí)測(cè)試儀器的。上述測(cè)試方法的實(shí)...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。